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镜片膜层厚度测量仪

简要描述:镜片膜层厚度测量仪GB及ISO标准测量镜片减反射膜反射率,传统方案采用镜片单面磨砂涂黑方案,用于减少基材及镜片第二表面反射。过程繁琐及存在客观操作。iR-5采用共焦方案极短的焦深支持样品直接表面反射率测量而不受其他界面反射光线影响。实现非接触无破坏检测。

  • 产品型号:iR-5
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-03-27
  • 访  问  量:309

详细介绍

品牌其他品牌应用领域电子

镜片膜层厚度测量仪波长范围:380nm ~850nm

反射比探测设计:全光谱光纤共焦(镜片反比测试无需磨砂涂黑操作)

反射比测定方法:标准物质对比计算绝对反射比

物镜:10倍平场物镜

入射角度:入射角度0~8°

反射比范围:0~100%

光谱分辨率:1nm(常规眼镜反射比计算5nm采样)

波长准确度:±0.5nm

积分测量时间:≤1.5秒

反射比示值:≤±1%(0~100%)

反射比重复性:≤0.5%

测量光斑尺寸:50μm

被检样品曲率:-1R ~-oo、+1R~00

摄像头:黑白工业摄像头

观察及对焦方式:CCD摄像头采集对焦光斑,直接观测光斑形态对焦。

反射测试光源:卤素灯5V10VA(寿命10000小时)

电压功率:AC 220V输入10VA

FILM透射比软件标配功能:

显示图表:光谱能量图、反射曲线图、计算方法图、理论对比图

图表分度线:可任意设置XY显示坐标

膜厚计算方法:自动判断选择、傅里叶FFT计算、极值法计算、拟合计算

物质材料库:可自行添加标准物质。(个别材料种类需要联系厂家进行添加)

评估数值:R2根系数、评估方差值

计算方法阈值:可自定义评估计算方法的阈值,及评估系数超差报警阈值

波长处理:自定义计算的波段及间隔波长(仅在IR-5波段范围内设置)

曲线显示设置:拟合使用归一显示及是否显示反射率绝对值

精确度:0.2nm

膜厚准确度:2nm或0.4%

重复性:0.15nm

膜厚测量范围:50nm~75μm(0.05~75μm)




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