镜片膜层厚度测量仪

镜片膜层厚度测量仪波长范围：380nm ～850nm

反射比探测设计：全光谱光纤共焦(镜片反比测试无需磨砂涂黑操作)

反射比测定方法：标准物质对比计算绝对反射比

物镜：10倍平场物镜

入射角度：入射角度0~8°

反射比范围：0~100%

光谱分辨率：1nm(常规眼镜反射比计算5nm采样)

波长准确度：±0.5nm

积分测量时间：≤1.5秒

反射比示值：≤±1%(0～100%)

反射比重复性：≤0.5%

测量光斑尺寸：50μm

被检样品曲率：-1R ～-oo、+1R～00

摄像头：黑白工业摄像头

观察及对焦方式：CCD摄像头采集对焦光斑，直接观测光斑形态对焦。

反射测试光源：卤素灯5V10VA(寿命10000小时)

电压功率：AC 220V输入10VA

FILM透射比软件标配功能：

显示图表：光谱能量图、反射曲线图、计算方法图、理论对比图

图表分度线：可任意设置XY显示坐标

膜厚计算方法:自动判断选择、傅里叶FFT计算、极值法计算、拟合计算

物质材料库：可自行添加标准物质。(个别材料种类需要联系厂家进行添加)

评估数值：R2根系数、评估方差值

计算方法阈值：可自定义评估计算方法的阈值，及评估系数超差报警阈值

波长处理：自定义计算的波段及间隔波长(仅在IR-5波段范围内设置)

曲线显示设置：拟合使用归一显示及是否显示反射率绝对值

精确度：0.2nm

膜厚准确度：2nm或0.4%

重复性：0.15nm

膜厚测量范围：50nm~75μm(0.05~75μm)